原子力显微镜-NanoFirst-2000(停止销售)

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原子力显微镜-NanoFirst-2000(停止销售)

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原子力显微镜-NanoFirst-2000(停止销售)

图片仅作参考,产品以实物为准
原子力显微镜-NanoFirst-2000(停止销售)介绍

原子力显微镜-NanoFirst-2000特点:
  原子力显微镜(Atomic force microscopy)是一种以物理学原理为基础,通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。一般原子力显微镜利用探针对样品扫描,探针固定在对探针与样品表面作用力极敏感的微悬臂上。悬臂受力偏折会引起由激光源发出的激光束经悬臂反射后发生位移。检测器接受反射光,最后接受信号经过计算机系统采集、处理、形成样品表面形貌图像。

计算机全数字化控制,操作简捷直观。
步进马达自动进行针尖--样品逼近,保证实验圆满成功。
深度陡度测量,三维显示。
纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。
X、Y二维样品移动平台,快速搜索样品区域.
标准RS232串行接口,无需任何计算机卡
样品观测范围从0.001um-20000um。
扫描速度达40000点/秒
可选配纳米刻蚀功能模块。

原子力显微镜-NanoFirst-2000技术指标:
AFM探头
样品尺寸:直径小等于30mm;厚度小等于15mm。
XY最大扫描范围:标准6X6微米
0.25nm
0.03nm(云母定标)
XY二维样品移动范围:5mm;精度0.5微米
扫描器、针尖座智能识别
44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统(选配)
AFM电化学针尖块,液电池,液体轻敲式成像功能(选配)
全金属屏蔽防震隔音箱/精密隔震平台(选购)

原子力显微镜-NanoFirst-2000电子学控制器:

XYZ控制 18-Bit D/A
数据采样 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采样
Z向反馈 DSP数字反馈
反馈采样速率 64.0KHz
高压放大器 集成高压运算放大器,最大电压范围+/-150V
频率范围 ---
幅度范围 ---
扫描速率 21Hz
扫描角度 0-360度
扫描偏移 任意
图像采样点 256X256或512X512
步进马达控制 手动和自动进退
计算机接口 标准RS232串行/USB

 

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